樣品幾何尺寸、物質組分、熱分布不均等等的影響導致的一些結果誤差，是否讓您在測量薄膜的熱分析參數時頭疼不已？
 

　　在此林賽斯的薄膜綜合物性分析儀（TFA）給您提供了的解決方案。導熱系數、電阻率、電導率、塞貝克效應，薄膜的霍爾效應等一次測得，不受其他因素影響，結果可靠。
 

　　TFA采用芯片設計，樣品與傳感器緊密接觸，構成一個縮小的熱帶法導熱測試模型；還可配置鎖相放大器等控制設備，以使用3ω方法，對樣品的in-plane和Cross-plane導熱進行測量。
 

　　同時TFA可以測量不同材質的樣品，金屬、陶瓷、半導體等無機薄膜或者有機薄膜。
 

林賽斯還為廣大科研工作者提供三個可選模塊，根據需要添加：
 

　　1、瞬態(tài)導熱測量模塊，使用鎖相放大器，配置3ω測量單元，可以測量平面和交叉面導熱系數，比熱等；
 

2、霍爾效應測量模塊，配置磁場單元，可以測量霍爾電壓、遷移率和載流子濃度。
 

　　3、低溫附件，包括液氮控制器，杜瓦罐等。加裝低溫附件后，使用溫度可擴展至-150℃-400℃。樣品架兩側均安裝有LN2管道，有利于樣品兩側的溫度控制。